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泰克DSA8300數字采樣示波器

簡要描述:

泰克DSA8300數字采樣示波器
DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖動,可以實現異常準確的器件檢定,全面支持光通信標準、時域反射和 S 參數。DSA8300 數字采樣示波器為 155 Mb/s 至 100Gb/s 及更高速率的數據通信提供了完整的高速物理層測試平臺。

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泰克DSA8300數字采樣示波器

泰克DSA8300數字采樣示波器

DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖動,可以實現異常準確的器件檢定,全面支持光通信標準、時域反射和 S 參數。DSA8300 數字采樣示波器為 155 Mb/s 至 100Gb/s 及更高速率的數據通信提供了完整的高速物理層測試平臺。

 

泰克DSA8300數字采樣示波器

 

功能

優勢

電模塊信號測量準確度:

超低系統抖動(典型 <100 fs)

> 70GHz

<100 fs 本底抖動允許對高位速率(40 和 100 (4´25) Gb/s)設備進行檢定,典型 <5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定(數據速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數據速率 >45 Gb/秒的 3 階諧波)。

所有帶寬上系統噪聲業內最低:

600 µV 最大(450 µV 典型)@ 60 GHz

380 µV 最大(280 µV 典型)@ 30 GHz

DA程度降低儀器在采集高位速率、低幅度信號時的噪聲量,避免可能帶來附加抖動和眼圖閉合的其他噪聲。

單臺主機內最多 6 個通道同時采集 <100 fs 抖動。

多個差分通道的高保真采集可進行通道間損傷測試,提高多個高速串行通道系統的測試吞吐量。

光模塊支持從 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太網所有標準速率的光*性測試。

為單模和多模光標準提供經濟實惠、功能多樣的光測試系統,從 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s(SONET/SDH 和 40GBase 以太網)和 100 Gb/s 以太網(100GBase-SR4、-LR4 和 ER4),波長 850、1310 和 1550nm。

優異的采集吞吐量,采樣率最高 300 kS/s。

通過優異的系統吞吐量,可將制造或設備檢定測試時間縮短 4 倍。

能夠將采樣器放到被測設備 (DUT) 的附近。

遠程采樣頭最DA程度降低因 DUT 至儀器之間的電纜和夾具造成的信號劣化,簡化測試系統的反嵌。

獨立的已校準通道相差校正。

雙通道模塊中具有集成的已校準通道相差校正,消除時滯,增強多通道測量的信號保真度。